标准名称: | 半导体桥式整流器热阻测试方法 |
英文名称: | Measurement method for thermal resistance of semiconductor bridge rectifieres |
中标分类: | |
发布部门: | 中华人民共和国信息产业部 |
发布日期: | 2000-10-20 |
实施日期: | 2000-10-20 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 1900-01-01 |
归口单位: | 中国电子技术标准化研究所 |
起草单位: | 中国电子技术标准化研究所 |
起草人: | 王长福、顾振球、易本健 |
出版社: | 工业电子出版社 |
出版日期: | 2000-10-20 |
页数: | 7页 |
本标准规定了半导体桥式整流器稳态热阻的测试方法
本标准适用于单相和三相半导体桥式整流器稳态热阻的测试。
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